Оборудование

Кафедра литологии и морской геологии имеет свои собственные лаборатории с современным оборудованием и программным обеспечением, использующиеся в образовательном процессе и научно-исследовательских проектах. Кроме того, студенты и сотрудники кафедры литологии и морской геологии имеют возможность пользоваться техническими центрами МГУ.

Микроскопы поляризационные БиОптик BPR 200 для учебных занятий

Микроскопы этого типа обеспечивают важнейшие методы поляризационной микроскопии: ортоскопическое наблюдение; коноскопическое наблюдение с центрируемой линзой Бертрана; кристаллооптические исследования при помощи набора компенсаторов и работу в поляризованном свете. Применяется в литологии, нефтяной геологии, петрографии магматических и метаморфических пород, при лабораторных исследованиях порового пространства, породообразующих и акцессорных минералов (оптические свойства, диагностические признаки, количественный состав).

Технические характеристики:

ПараметрЗначение
Оптическая длина тубуса, мм160
Диапазон увеличений, кратот 40 до 600
Тубус фактор1,0
Револьверное устройство4-х позиционный револьвер, ориентированный к наблюдателю
Визуальная насадкабинокулярная
Регулировка межзрачкового расстояния, мм30
Диоптрическая подстройка50 - 75 мм
Механизм фокусировкикоаксиальное расположение ручек грубой и точной фокусировки
цена деления шкал механизма микрометрической фокусировки, мм - 0,002;
Предметный столиккруглый градуированный, диаметр - 170 мм, вращение на 360°
Держатель препаратасъемный 
Конденсор  поляризационныйчисловая апертура, NA – 1,30 (центрируемый, с вертикальным перемещением с откидной линзой, встроенная апертурная диафрагма)
Осветительпроходящего света — встроенный в основание микроскопа, плавная регулировка яркости - галогенная лампа 12 В 30 Вт,
отраженного света — съемный, 12В 50 ВТ или люминесцентный, с ртутной лампой HBO 100Вт, диапазон возбуждения 250-400 нм для метода ЛБА
ОкулярыWF10× / 22 /Ø23
WF10× / 20 /Ø23 с сеткой
WF10× / 20 /Ø23 с перекрестием
WF10× / 20 /Ø23 с измерительной шкалой 0,1 мм
Объективы поляризационные E PLAN4 × / 0,1 / 160 / 0,17 /
10 × / 0,25 / 160 / 0,17 /
20 × / 0,40 / 160 / 0,17 / 
40 × / 0,65 / 160 / 0,17 / Пруж.
60 × / 0,85 / 160 / 0,17 / Пруж. 
Анализаторповорачиваемый 0° - 180° для проходящего света с анализатором в слайдере, и линзой Бертрана и пазом для компенсаторов
Компенсаторы1λ (компенсатор красного (1 порядка), 550 нанометров) 1/4λ (147.3 нанометров); кварцевый клин ( I-IV)
Поляризаторвращаемый 0° - 360 градусов, со шкалой отсчета углов поворота
Светофильтры синий (ND25), зеленый (IF550), LBD-2
Объект микрометр 1DIV=0,01мм
Габаритные размеры микроскопа, cм, не более 35×27×56,5
Масса, кг, не более9,8

Микроскопы Axio Scope 40 Carl Zeiss для учебных занятий и исследований

Микроскопы подобной модификации предназначены для работы и исследований в отраженном и проходящем свете. Доступен широкий спектр методов исследования: светлое поле, тёмное поле, стандартный и круговой дифференциально-интерференционный контраст, PlasDIC контраст, стандартная и круговая поляризация, фазовый контраст, люминесценция. Качественная широкопольная оптика с цветовой коррекцией (IC2S-оптика) скорректированна на бесконечность и сочетается с освещением по Кёллеру. Микроскоп Axio Scope 40 обеспечивает вывод изображения на цифровую видеокамеру. Используются как в учебном процессе, так и при выполнении научно-исследовательских работ.

Технические характеристики:

ПараметрЗначение
Общее увеличение микроскопа12.5x-1000х
Увеличение объективов2.5х; 10х; 20х; 50х; (опционально
 длиннофокусные, флуоресцентные, расширенного контраста)
Типы объективовPlan-Neofluar, N-Achroplan, EC Epiplan
Блок дополнительного увеличения Optovar1.25x, 1.6x, 2.5x, 4.0x
Увеличение окуляров и поле зренияW-PL 10x/23мм
Револьвер для крепления объективов6-и позиционный быстросъёмный (на 3 или 6 слайдеров ДИК)
Револьвер для смены рефлекторов6- или 4- позиционный быстросъёмный
Доступные методы контрастасвелое/тёмное поле, стан./круг. поляризация, стан./круг./Plas ДИК, флуоресценция
Осветитель встроенный (опционально)HAL 50 галогеновый 12В/50Вт для проходящего света
Осветитель с внешним БП (опционально)HAL 100 (галогеновый), Colibri (светодиодный),
 самонастраиваемые ртутные HBO 50, HBO 100, HXP 120
Видео/Фото выходесть
Предметный стол с твёрдым анодированным покрытием (опционально)75х50мм прямоугольный/закруглённый, для проходящего/отражённого света, вращающийся 360o
Окулярные насадкибинокуляр 30°/23

Лазерный анализатор размеров частиц Fritsch Analysette 22 Micro Tec Plus

Универсальный лазерный прибор для измерения частиц, подходящий для любых стандартных измерительных задач в диапазоне 0,08–2000 мкм. Высочайшая точность измерения и отличное разрешение в компактном устройстве. Применяется для анализа гранулометрического состава любых материалов: осадков и грунтов.

Технические характеристики:

ПараметрЗначение
Диапазон измерений0,08 – 2000 мкм
Возможные диапазоны измерений0,08 – 45 мкм / 15 – 2000 мкм /0,08 – 2000 мкм
ЛазерДва полупроводниковых лазера
Зеленый (λ = 532 нм, 7 мВт), ИК ( λ = 940 нм, 9 мВт)
Линейная поляризация
Средний срок службы 10000 часов
Юстировка лазерного луча  Автоматическая
Типичная продолжительность измерения5 – 10 с (регистрация результатов одного измерения)
2 мин (полный цикл измерения)
Блок диспергирования в жидкой средеОбъем жидкости 300 – 500 см3
Центробежный насос с регулируемой производительностью
Ультразвук с регулируемой мощностью (макс. 60 Вт)
Используемые материалы в контуре пробы: нержавеющая сталь, тефлон, стекло BK7, шланги из Norprene®
Габариты (Ш х Г х В)53 x 62 x 35 – 55 см (измерительный блок MicroTec plus в зависимости от конфигурации)
32 x 62 x 44 см (блок диспергирования в жидкой среде)  

Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3М с гониометрами ГУР-8

Аппарат рентгеновский стационарный Дрон-3М предназначен для широкого круга рентгеноструктурных исследований различных материалов: качественный и количественный фазовый анализ, прецизионное определение параметров решетки кристаллических веществ; определение размеров кристаллитов; исследование текстур.

Технические характеристики:

ПараметрЗначение
Аппарат обеспечивает работу с рентгеновскими трубками1,6 БСВ 24-Co, 2,0 БСВ 24-Сu, 2,0 БСВ 27 - Cu;  2,0 БСВ 27 - Со;
Мощность, потребляемая аппаратом, не более6,0 кВт
Мощность рентгеновского питающего устройства
3,0 кВт
Номинальное значение высокого напряжения
50 кВ
Номинальное значение анодного тока
60 мА
Радиус гониометрического устройства192 мм
Диапазон углов перемещения детектора (углов дифракции -2θ)
от 2 до 166°
Шаги перемещения детектора при ступенчатом режиме
0,01; 0,02; 0,05; 0,10; 0,20; 0,50; 1,00°
Скорости вращения детектора
1/32, 1/16, 1/8, 1/4, 1/2, 1, 2, 4, 8, 16°/мин
Питание аппарата осуществляется от трёхфазной сети переменного тока частотой 50±1 Гц, напряжением 380/220 В с допустимым отклонением ±10% от номинального значения
Габаритные размеры стойки дифрактометрической, мм
1075×665×505

Анализатор керна томографический РКТ-180

Анализатор керна томографический РКТ-180 предназначен для изучения горных пород, почв, неконсолидированных донных осадков, биологических образцов и др. Позволяет получить трехмерное распределеие значений рентгеновского поглощения всего объема образца, в пределах разрешающей способности. Выявляются все рентгеноконтрастные элементы, выделяющиеся по плотности и химическому составу. Проводится анализ морфологии и размера пор, каверн, трещин, включений тяжелых минералов и основных компонент пород-коллекторов. Изучение сульфидных включений магматических пород рассоенных массивов. Исследование текстурных и структурных особенностей неконсолидированных донных осадков, а так же создание электронных баз осадков. Установление законмерностей строения скелета и основных элементов биологических образцов. Визуализация распределения основных рентгеноконтрастых компонетов в стереологических 3d моделях. Основным преимуществом метода являтся неинвазивность (неразрушаемость) исследуемых образцов.

Технические характеристики:

ПараметрЗначение
Рабочая область томографа, мм100×100×1000
Пространственное разрешение, мкм150
Тип рентгеновской трубкиИнтровольт-180
Максимальное напряжение, кВ180
Фокальное пятно, мм1,7×2,3
Угол выхода лучей40⁰
ДетекторShad-o-Box 1280 HS
Размер пикселя детектора, мкм100
Размеры в пикселях1312×1316
Разрядность14 bit